名称：粉末高温阻抗测试系统 高温粉末电阻率测试系统
类型：BXA65
产品简介：本机提供一种在高温环境下测试粉体材料电性能，分析粉体在高温环境下电阻，电阻率（电导率），与压强和温度的实时变化关系，能模拟粉体本身在使用环境和自身特性高温环境下的电性能状态.为提高生产，品质管理，研发新品，改善配方提供新的参考数据.为改善生产工艺和新品生产中存在的可能性以及不确定性的影响因数进行提前预测和预防，建立产品从研发到生产的过程数据库模型

名称：绝缘材料高温电阻率测试系统 高温体积电阻测试仪 高温表面和体积电阻率测试系统
类型：BXA64
产品简介：由测试电阻率系统与高温试验箱结合配置专用的高温测试探针治具，满足绝缘材料在高温状态下，因温度变化对电阻值变化之表面和体积电阻率测量要求，通过先进的测控软件可以显示出温度与电阻，电阻率，数据的变化曲线，是检验和分析材料质量的一种重要的工具。

名称：导体材料高温电阻率测试系统 电阻率测试系统 高温测试探针
类型：BXA63
产品简介：采用由四端测量方法测试电阻率系统与高温试验箱结合配置专用的高温测试探针治具，满足半导体及导体材料因温度变化对电阻值变化的测量要求，通过先进的测控软件可以显示出温度与电阻，电阻率，电导率数据的变化曲线，是检验和分析材料质量的一种重要的工具。

名称：高温四探针电阻率测试系统 四探针双电测定仪 双电测数字式四探针测试仪
类型：BXA62
产品简介：采用由四探针双电测量方法测试方阻和电阻率系统与高温试验箱结合配置专用的高温测试探针治具，满足半导体材料因温度变化对电阻值变化的测量要求，通过先进的测控软件可以显示出温度与电阻，电阻率，电导率数据的变化曲线，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。

名称：经济型电碳制品电阻率测试仪 输出12v 电炭制品电阻率的测定
类型：BXA60
产品简介：本标准适用于电刷及其他电炭制品电阻率的测定.

名称：电碳制品电阻率测试仪 输出12v电炭制品电阻率测试仪
类型：BXA59
产品简介：本标准适用于电刷及其他电炭制品电阻率的测定.

名称：超高阻双电四探针测试仪 四探针测定仪
类型：BXA58
产品简介：本品为解决四探针法测试超高阻值材料方阻及电阻率，最大可以测试到1010Ω方阻值，是目前同行业中能测量到的最大方阻值

名称：超低阻双电四探针测试仪 覆盖膜四探针测试仪
类型：BXA57
产品简介：本品为解决四探针法测试超低阻材料方阻及电阻率，最小可以测试到1uΩ方阻值，是目前同行业中能测量到的最小值，采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。

名称：双电四探针方阻电阻率测试仪 半导体材料的方块电阻 四探针电阻率 四探针方阻电阻率测试仪
类型：BXA56
产品简介：本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。

名称：双电四探针方阻电阻率测试仪 粉末电导率测试仪 四探针方阻电阻率测试仪
类型：BXA55
产品简介：双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪 器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。

名称：双电四探针方阻电阻率测试仪【小机箱】 粉末电导率测试仪四探针电阻率
类型：BXA54
产品简介：该仪 器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。

名称：双电四探针方阻电阻率测试仪 塑料薄膜金属镀层方块电阻测试仪 探针电阻率/方阻测试仪
类型：BXA53
产品简介：双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪 器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。

名称：双电四探针方阻电阻率测试仪 单晶硅四探针测试仪 导体材料电阻率及方块电阻
类型：BXA52
产品简介：双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪 器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。

名称：双电四探针方阻电阻率测试仪 四探针双电测量仪
类型：BXA51
产品简介：本仪器是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。

名称：普通四探针方阻电阻率测试仪【小机箱】 导电(屏蔽)布电阻率测试仪四探针法
类型：BXA50
产品简介：按照硅片电阻率测量的国际标准（ASTM F84）及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国A.S.T.M 标准，本机配置232电脑接口及USB两种接口，本机结合采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差，比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量，更加准确.